Cálculo de la vida útil del CI para la sobretensión de alimentación

Question

¿Qué cálculo se puede realizar para calcular la vida útil de un procesador integrado (proceso de <28nm) cuando se somete a una ligera sobretensión? El carril de alimentación en cuestión es para las partes analógicas del circuito (PLL de reloj y recepción de SerDes).

0,87 a 0,93V - Tensión de funcionamiento recomendada

0,945V -máximo absoluto

0,938V - tensión medida durante la prueba de fabricación.

La tensión de alimentación se ha ajustado a un nivel alto, 0,923 V centrados y utilizando resistencias del 0,1%, pero el sentido remoto de la tensión del núcleo ha añadido 6 mV no contabilizados. Resultado no deseado, necesito explorar las implicaciones de la vida útil de esta sobretensión.

He intentado buscar pistas en google y en stack exchange pero lo único que encuentro son los efectos de la temperatura en la vida útil del CI.

Answer 1

No hay una respuesta única a esta pregunta. Hay que ponerse en contacto con el fabricante y obtener los datos de las pruebas de vida útil acelerada. Es probable que, si utilizas el dispositivo dentro de sus especificaciones máximas, no haya datos sobre pequeñas variaciones en la tensión de alimentación.

De lo contrario, tendrás que hacer tú mismo las pruebas de vida.

Recuerde que estos efectos pueden variar drásticamente de un lote de fabricación a otro.