Estoy interesado en medir la impedancia de salida de un convertidor DCDC de alto rendimiento junto con su placa.
Hasta ahora me refería a este documento muy bien escrito.
Me refiero a fig15, aquí está para facilitar la referencia (¡gracias Keysight!)
El DUT es la salida del convertidor DCDC.
¿Cómo funciona? Se inyecta una perturbación en la tensión continua de salida del convertidor mediante el generador de señales situado más a la derecha. La tensión a través del DUT se mide mediante \$V_T\$ mientras que \$I_{DUT}\$ se mide por \$V_R\$ gracias a la \$1\Omega\$ resistencia de derivación. Por supuesto \$V_x\$ son vectorial voltímetros, por lo que cuando se realiza la división para calcular la impedancia, el número que se obtiene es, de hecho, la impedancia y no sólo la resistencia.
Ahora todo esto me parece muy bien y bonito, entiendo que un Analizador de Redes demodula los voltajes medidos en sus entradas, deshaciéndose de la componente DC inevitablemente presente en \$V_T\$ .
Pero, ¿qué pasa con la ondulación? Nuestro DUT puede modelarse mediante un generador de CC, un generador de rizado algo aleatorio y una impedancia, todo ello en serie. Esta tensión de ondulación se medirá mediante \$V_T\$ pero por lo que tengo entendido no fluiría corriente en R.
¿Cómo influye este fenómeno en la medida final?
Se podría argumentar que el rizado tiene su potencia concentrada en un ancho de banda estrecho, pero algunos convertidores distribuyen a propósito esta potencia en un ancho de banda mayor, por cuestiones de EMI. ¿Cómo lo solucionaría?
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\$V_R\$ no mide \$I_{DUT}\$ mide la corriente que pasa por el secundario del transformador.
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Así que \$V_T\$ le indica la variación de tensión producida por una pequeña perturbación de corriente medida por \$V_R\$ . Et voila, impedancia.
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La corriente dut y la corriente secundaria son las mismas, pero mientras vr mide sólo la corriente producida por la pequeña perturbación, vt obtiene tanto el rizado como la tensión de perturbación, ahí es precisamente donde radica mi duda.
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Perdón, creía que DUT era alguna otra carga también conectada a la fuente de alimentación que se estaba probando. Ahora veo DUT es en realidad la fuente de alimentación.
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Creo que la idea es que cualquier ondulación inherente en la salida de alimentación sea mucho menor que el efecto de la carga de prueba. También mediante el uso de voltímetros vectoriales, que sólo medir el componente de la ondulación que es la frecuencia bloqueada a la carga de prueba.
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No estoy seguro de que el rizado fuera mucho menor, forzar una señal mayor allí sería difícil de todos modos debido a la baja impedancia. Lo de la frecuencia bloqueada es mi única explicación, pero ¿qué pasa con los convertidores de "ondulación de espectro ensanchado"?
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Si el analizador filtra las mediciones en función de la frecuencia comprobada, ¿no cabría esperar ver perturbaciones sólo en los armónicos precisos de la ondulación? Esto le daría la oportunidad de estimar la impedancia real si no tiene en cuenta la discontinuidad. ¿Tienes el hardware para probarlo? Parece que los efectos específicos dependerían en gran medida de cómo se implementen el muestreo y el filtrado.
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No tengo el hardware en este momento, pero ya que probablemente lo vamos a comprar, nos dejarán probarlo (con suerte) durante una semana. Estoy empezando a pensar también que la única manera de hacer frente a esto es medir y ver qué pasa